Table SAP TEWA_EL_003 - Paramètres d'échantillon

Zone Clé Elément de donnée Type Offset Long. Décimales Table de Contrôle Description
MANDT X MANDT CLNT 0 3 0 T000 Mandant
SAMPLEPARAMNR X EWAEL_SAMPLEPARAMETERNR CHAR 3 20 0 Paramètres d'échantillon
DESCRIPTION EWAEL_DESCRIPTION CHAR 23 254 0 Description
MENSURMODENR EWAEL_MENSURATIONMODENR CHAR 277 20 0 Numéro de la procédure de mesure
MINVALUE EWAEL_SAMPLEPARAMMINVALUE QUAN 297 15 3 Valeur minimale du paramètre d'échantillon
MAXVALUE EWAEL_SAMPLEPARAMMAXVALUE QUAN 305 15 3 Valeur maximale du paramètre d'échantillon
SAMPLEPARAMUNIT EWAEL_SAMPLEPARAMUNIT UNIT 313 3 0 T006 Unité du paramètre d'échantillon